El control estadístico de procesos (CEP) distingue dos fuentes de variación: causas comunes (aleatorias, inherentes al sistema) y causas especiales o asignables (identificables). Un proceso está bajo control estadístico solo cuando actúan únicamente causas comunes. La carta de control, creada por Walter A. Shewhart (Bell Telephone Laboratories, introducida en 1924 y desarrollada en 1931), vigila esta condición fijando los límites a ±3σ de la línea central: LSC = LC + 3σ y LIC = LC − 3σ.
Las siete herramientas básicas de la calidad apoyan el diagnóstico: hoja de verificación, histograma, diagrama de Pareto, diagrama de causa-efecto (Ishikawa o espina de pescado), diagrama de dispersión, estratificación y carta de control. El Pareto aplica el principio 80/20 (los pocos vitales frente a los muchos triviales); el Ishikawa organiza las causas en las 6M: Mano de obra, Método, Maquinaria, Materiales, Medición y Medio ambiente; el histograma muestra la distribución de los datos de una tabla.
Por variables se usan cartas por subgrupos. En la X̄–R los límites de medias son X̿ ± A2·R̄; para n = 5: A2 = 0.577, D3 = 0, D4 = 2.114 y d2 = 2.326 (con σ = R̄/d2, y LIC de la carta R igual a cero en subgrupos pequeños). La X̄–S se prefiere con subgrupos grandes. Por atributos: carta p (proporción de unidades defectuosas) y np (número de defectuosas), basadas en la distribución binomial; carta c (defectos por muestra) y u (defectos por unidad), basadas en la distribución de Poisson.
Las reglas de Western Electric / Nelson detectan patrones no aleatorios:
La capacidad mide el cumplimiento de especificaciones: Cp = (LSE − LIE) / 6σ (potencial) y Cpk = mín[(LSE − μ)/3σ, (μ − LIE)/3σ] (real, pues considera el centrado); el Cpm penaliza además el alejamiento del valor objetivo. El proceso se considera capaz si Cpk ≥ 1.33. Un nivel Seis Sigma equivale a 3.4 defectos por millón de oportunidades (DPMO) asumiendo un corrimiento de la media de 1.5σ, y su mejora sigue las cinco fases DMAIC (Definir, Medir, Analizar, Mejorar, Controlar).
Completan el sistema el muestreo de aceptación (definido por el AQL, la curva OC y los parámetros n y c), los costos de la calidad (prevención, evaluación y fallas internas/externas) y la norma ISO 9001, estructurada por el ciclo PHVA/PDCA (Deming/Shewhart) y por principios como el enfoque al cliente, el liderazgo y la mejora continua.
1. ¿Cuál de las siguientes herramientas forma parte de las siete herramientas básicas de la calidad propuestas por Ishikawa?
El diagrama de Pareto es una de las siete herramientas básicas descritas por Ishikawa; FODA, QFD y AMEF son herramientas de gestión o de análisis de riesgo que no pertenecen a ese conjunto. (Kaoru Ishikawa, Guide to Quality Control (JUSE))
2. Un equipo de mejora continua quiere representar gráficamente las posibles causas de un defecto de soldadura, agrupándolas en ramas como mano de obra, método, maquinaria, material, medición y medio ambiente. ¿Qué herramienta de calidad está aplicando?
El diagrama de causa-efecto (Ishikawa o de espina de pescado) organiza las causas potenciales de un problema en categorías como las 6M; el Pareto jerarquiza por frecuencia y el histograma describe la distribución de datos numéricos. (Kaoru Ishikawa, Guide to Quality Control (JUSE))
3. El diagrama de Pareto se fundamenta en el principio de que, en la mayoría de los problemas de calidad...
El principio de Pareto (regla 80/20), aplicado por Juran a la calidad, establece que pocas causas vitales explican la mayoría de los problemas; las demás opciones describen conceptos distintos que no corresponden al fundamento del Pareto. (J. M. Juran, Juran's Quality Handbook)
4. Para construir un histograma a partir de las mediciones registradas de un proceso, el primer paso consiste en organizar los datos en...
El histograma se construye a partir de una tabla de frecuencias que agrupa los datos en intervalos de clase; el diagrama de dispersión, la carta de control y la matriz causa-efecto son herramientas distintas con propósitos diferentes. (Kaoru Ishikawa, Guide to Quality Control (JUSE))
5. El índice de capacidad potencial del proceso Cp se obtiene al dividir...
Cp = (LSE − LIE) / 6σ, es decir, el ancho de especificaciones entre seis desviaciones estándar; la opción sobre la distancia al límite más cercano corresponde a Cpk, no a Cp. (D. C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control; AIAG SPC Reference Manual)
6. A diferencia del índice Cp, el índice Cpk incorpora en su cálculo...
Cpk = mín[(LSE − μ)/3σ, (μ − LIE)/3σ] considera dónde está centrada la media del proceso, mientras que Cp solo evalúa la dispersión respecto al ancho de especificaciones sin importar el centrado. (D. C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control; AIAG SPC Reference Manual)
7. De acuerdo con el criterio comúnmente utilizado en el control estadístico de procesos, un proceso se considera capaz cuando su índice Cpk es igual o mayor a...
El valor de referencia comúnmente aceptado para considerar un proceso capaz es Cpk ≥ 1.33; Cpk = 1.00 corresponde a un proceso apenas capaz, y 0.67 a uno insuficiente. (AIAG Statistical Process Control (SPC) Reference Manual)
8. En la revisión de defectos de una línea de ensamble durante un mes se registraron las siguientes frecuencias: soldadura deficiente, 120 casos; rayones superficiales, 45 casos; empaque dañado, 20 casos; etiquetado incorrecto, 15 casos. Al construir el diagrama de Pareto con estos datos, ¿qué categoría debe ubicarse en la primera barra, de izquierda a derecha?
El diagrama de Pareto ordena las categorías de mayor a menor frecuencia; con 120 casos, soldadura deficiente es la causa vital que debe atacarse primero, por encima de las demás con menor frecuencia. (J. M. Juran, Juran's Quality Handbook)
9. Un proceso de llenado de botellas tiene especificaciones de 495 a 505 mililitros y una desviación estándar de 1.5 mililitros. ¿Cuál es el valor del índice Cp de este proceso?
Cp = (LSE − LIE)/6σ = (505 − 495)/(6×1.5) = 10/9 = 1.11; dividir entre 3σ en vez de 6σ da 2.22, y omitir el factor 6 o usar solo la mitad del rango produce los otros valores erróneos. (D. C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control; AIAG SPC Reference Manual)
10. Un proceso tiene especificaciones LIE = 20 y LSE = 40, con una media del proceso de 32 y una desviación estándar de 3. ¿Cuál es el valor del índice Cpk?
Cpk = mín[(40−32)/(3×3), (32−20)/(3×3)] = mín[0.89, 1.33] = 0.89; tomar el mayor de los dos cocientes (1.33) en vez del menor es un error común, y 1.11 corresponde en realidad al Cp del proceso. (D. C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control; AIAG SPC Reference Manual)
11. Si el índice Cp de un proceso es notablemente mayor que su índice Cpk, esto indica que el proceso...
Cuando Cp y Cpk difieren, la diferencia refleja el descentrado del proceso respecto al punto medio de las especificaciones; si el proceso estuviera perfectamente centrado, Cp sería igual a Cpk. (D. C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control; AIAG SPC Reference Manual)
12. Al elaborar un diagrama de Ishikawa para analizar defectos en piezas maquinadas, un analista de calidad clasifica la causa 'humedad ambiental excesiva en el taller' dentro de la categoría de...
Las condiciones ambientales como la humedad o la temperatura del área de trabajo se clasifican en la categoría de medio ambiente dentro de las 6M del diagrama causa-efecto, distinta de método, medición o mano de obra. (Kaoru Ishikawa, Guide to Quality Control (JUSE))
13. A diferencia de una carta de control, el histograma...
El histograma resume la distribución de los datos sin importar el orden temporal en que fueron tomados; los límites a 3σ, los subgrupos racionales y la clasificación binomial de conformes/no conformes son características de las cartas de control (Shewhart y carta p). (Kaoru Ishikawa, Guide to Quality Control (JUSE); D. C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control)
14. Un proceso tiene especificaciones LIE = 10 y LSE = 30, con un valor objetivo (target) de 20. La media actual del proceso es 24 y su desviación estándar es 2. ¿Cuál es el valor aproximado del índice Cpm?
Cpm = (LSE−LIE)/(6√(σ²+(μ−T)²)) = 20/(6×√(4+16)) = 20/(6×4.47) ≈ 0.75; el valor 1.67 corresponde al Cp (que ignora el desvío respecto al target) y 1.00 al Cpk, ambos menos sensibles al descentrado respecto al objetivo. (D. C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control (índice Cpm de Taguchi))
15. Un supervisor de calidad recolectó 200 mediciones del diámetro de un eje maquinado y desea visualizar rápidamente si la distribución de esos datos es simétrica o está sesgada hacia alguno de los límites de especificación. ¿Qué herramienta de calidad debe emplear?
El histograma permite observar la forma de la distribución (simetría o sesgo) de una variable continua; el Ishikawa busca causas, el Pareto jerarquiza defectos por frecuencia y la hoja de verificación solo registra datos sin mostrar su forma. (Kaoru Ishikawa, Guide to Quality Control (JUSE))
16. El índice Cpm, a diferencia del índice Cpk, penaliza adicionalmente la...
Cpm incorpora en el denominador la desviación cuadrática de la media respecto al valor objetivo T, no solo respecto a los límites de especificación como lo hace Cpk, penalizando el desvío del proceso frente al target. (D. C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control (índice Cpm de Taguchi))
17. En un proceso monitoreado con subgrupos de tamaño n = 5, el rango promedio observado es de 4.5 unidades. Las especificaciones del producto son LIE = 45 y LSE = 65, y la media del proceso es 58. Si la constante d2 para n = 5 es 2.326, ¿cuál es el valor aproximado del índice Cpk?
Primero se estima σ = R̄/d2 = 4.5/2.326 ≈ 1.94; después Cpk = mín[(65−58)/(3×1.94), (58−45)/(3×1.94)] = mín[1.21, 2.24] = 1.21. Tomar el cociente mayor (2.24) en vez del menor, o el Cp del proceso (1.72), son errores frecuentes. (AIAG Statistical Process Control (SPC) Reference Manual; D. C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control)
18. Un índice Cpk igual a 1.00 significa que, asumiendo una distribución normal del proceso, la media se encuentra a una distancia del límite de especificación más cercano equivalente a...
Un Cpk de 1.00 equivale a que la media está a 3σ del límite más cercano, situación de un proceso apenas capaz (equivalente a los límites de control clásicos de Shewhart); 6σ correspondería a un Cpk de 2.00 y 1.33σ a un Cpk de 0.44. (AIAG Statistical Process Control (SPC) Reference Manual)
19. Un proceso presenta un índice Cp de 2.00 y un índice Cpk de 0.80. ¿Cuál es la acción más adecuada para mejorar la capacidad real del proceso sin necesidad de reducir su variabilidad?
Como Cp es mucho mayor que Cpk, el problema es de centrado y no de variabilidad; recentrar la media hacia el punto medio de las especificaciones puede elevar el Cpk hasta acercarlo al Cp, sin modificar la dispersión del proceso. (D. C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control; AIAG SPC Reference Manual)
20. De las siguientes afirmaciones sobre el diagrama de Pareto, ¿cuál NO es correcta?
El diagrama de Pareto jerarquiza causas por frecuencia en un punto en el tiempo, pero no sustituye a la carta de control, que es la herramienta diseñada para monitorear la estabilidad del proceso a través del tiempo; las otras tres afirmaciones describen correctamente al Pareto. (J. M. Juran, Juran's Quality Handbook; D. C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control)
21. Un proceso presenta un índice Cp de 1.50, un índice Cpk de 1.20 y un índice Cpm de 0.95. Esta combinación de valores indica más probablemente que el proceso está...
La caída moderada de Cp a Cpk sugiere un descentrado leve respecto a los límites de especificación, y la caída adicional de Cpk a Cpm indica que la media está más alejada del valor objetivo T de lo que sugieren solo los límites; ninguno de los índices de capacidad evalúa por sí mismo la presencia de causas especiales. (D. C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control (índice Cpm de Taguchi))
22. En una carta de control de Shewhart, ¿a qué distancia de la línea central se ubican tradicionalmente los límites de control superior (LSC) e inferior (LIC)?
Los límites de control de Shewhart se colocan a ±3σ de la línea central, lo que produce una probabilidad muy baja de falsas alarmas cuando el proceso está bajo control. (ISO 7870-2:2013, Control charts — Part 2: Shewhart control charts; D. C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control)
23. ¿Cuál de las siguientes expresiones corresponde correctamente al cálculo de los límites de control de la carta X̄ dentro de una carta X̄-R?
La fórmula estándar de los límites de la carta de medias usa la constante A2 multiplicada por el rango promedio; D4 corresponde a la carta R y A3 se emplea junto con S̄ en la carta X̄-S, no con R̄. (D. C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control; ISO 7870-2:2013)
24. Para subgrupos de tamaño n = 5 en una carta X̄-R, ¿cuál es el valor correcto de la constante A2?
La tabla estándar de constantes indica A2 = 0.577 para n = 5; 0.729 corresponde a n = 4, 1.427 es la constante A3 usada en la carta X̄-S y 2.114 es D4, propia de la carta R. (Tabla de constantes de cartas de control, AIAG SPC Reference Manual / ASTM)
25. En un proceso con subgrupos de tamaño n = 5 y rango promedio R̄ = 6.0 unidades, ¿cuál es el límite superior de control (LSC) de la carta R, utilizando D4 = 2.114?
El LSC de la carta R se obtiene con D4·R̄ = 2.114 × 6.0 ≈ 12.68; los demás valores resultan de usar por error la constante A2 o d2, o de invertir la operación. (D. C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control; AIAG SPC Reference Manual)
26. Para subgrupos de tamaño n = 5, el límite inferior de control (LIC) de la carta R resulta igual a:
Para n ≤ 6, D3 = 0, por lo que el LIC de la carta R es cero; un rango no puede ser negativo, y D3 = 0.076 corresponde a n = 7, no a n = 5. (Tabla de constantes de cartas de control, AIAG SPC Reference Manual / ASTM)
27. Un ingeniero de calidad grafica 25 subgrupos de tamaño n = 5 en una carta X̄-R y obtiene un rango promedio R̄ = 4.5 unidades. Usando d2 = 2.326, ¿cuál es la estimación de la desviación estándar del proceso (σ)?
σ se estima como R̄/d2 = 4.5/2.326 ≈ 1.93; los otros valores provienen de invertir la división, de usar A2 en lugar de d2, o de multiplicar en vez de dividir. (AIAG Statistical Process Control (SPC) Reference Manual)
28. ¿Cuál es la diferencia fundamental entre las causas comunes y las causas especiales (asignables) de variación en un proceso, según el marco de Shewhart y Deming?
El marco de Shewhart/Deming distingue causas comunes (aleatorias, del sistema) de causas especiales (asignables, identificables); las demás opciones invierten o fabrican relaciones que no corresponden al concepto. (W. A. Shewhart / W. E. Deming; base del control estadístico de procesos)
29. Suponiendo una distribución normal y límites de control a 3σ, ¿cuál es aproximadamente la probabilidad de que un punto caiga fuera de los límites de control cuando el proceso está realmente bajo control (error tipo I, α)?
Con límites de 3σ y datos normales, α ≈ 0.0027, es decir, 0.27%; el 5% corresponde al nivel de significancia típico de otras pruebas estadísticas, no al de las cartas de Shewhart. (D. C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control)
30. Durante el análisis de una carta X̄, un supervisor observa que los últimos 8 puntos consecutivos se ubican del mismo lado de la línea central, aunque ninguno rebasa los límites de 3σ. De acuerdo con las reglas de Western Electric, esta situación debe interpretarse como:
Las reglas de Western Electric señalan que 8 puntos consecutivos del mismo lado de la línea central constituyen una condición fuera de control, aun sin rebasar los límites de 3σ. (Western Electric, Statistical Quality Control Handbook (1956))
31. Un analista de calidad revisa una carta X̄ y observa que 2 de los últimos 3 puntos consecutivos se ubican más allá de 2σ de la línea central, del mismo lado, aunque ninguno rebasa los límites de 3σ. De acuerdo con las reglas de Western Electric, esta observación:
La regla de Western Electric de 2 de 3 puntos consecutivos más allá de 2σ del mismo lado se activa exactamente en este escenario, señalando una posible causa asignable. (Western Electric, Statistical Quality Control Handbook (1956))
32. Cuando el tamaño de subgrupo es grande (por ejemplo, n > 10) o se dispone de captura automatizada de datos, se recomienda sustituir la carta X̄-R por la carta X̄-S porque:
Cuando n crece, el rango pierde eficiencia estadística porque ignora los valores intermedios de la muestra, mientras que la desviación estándar aprovecha toda la información disponible. (D. C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control (comparación de cartas X̄-R y X̄-S))
33. Para subgrupos de tamaño n = 5, el límite superior de control (LSC) de la carta S se obtiene multiplicando la desviación estándar promedio (S̄) por la constante:
La constante B4 = 2.089 se usa para el LSC de la carta S en n = 5; B3 = 0 da el LIC, A3 se emplea en la carta X̄-S para los límites de medias, y c4 es un factor de corrección de sesgo, no un multiplicador del LSC. (D. C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control (tabla de constantes de cartas de control); AIAG SPC Reference Manual)
34. ¿Cuál de las siguientes condiciones NO forma parte de las cuatro reglas clásicas de Western Electric para detectar señales fuera de control en una carta de control?
Las cuatro reglas clásicas de Western Electric son: 1 punto fuera de 3σ, 2 de 3 puntos más allá de 2σ, 4 de 5 puntos más allá de 1σ y 8 puntos consecutivos del mismo lado; la regla de tendencia de 6 puntos pertenece a un conjunto distinto (reglas de Nelson). (Western Electric, Statistical Quality Control Handbook (1956))
35. En un plan de muestreo de aceptación por atributos, el Nivel de Calidad Aceptable (AQL) se define como:
El AQL es, por definición, el porcentaje máximo de defectuosos considerado satisfactorio como promedio del proceso para fines de aceptación por muestreo; no equivale a un umbral de rechazo ni a un tamaño de muestra. (ANSI/ASQ Z1.4-2003, Sampling Procedures and Tables for Inspection by Attributes)